EMO Hannover 2017
Prozessautomatisierung im "Wolkenschloss"

Von Jürgen Schreier 7 min Lesedauer

Cloud-Lösungen sind voll angesagt: Digitalisierte Daten in App-basierten "Wolkenschlössern" sollen Prozesse automatisieren, während Analysetools das Betriebsverhalten von Anlagen echtzeitnah herausarbeiten. Auf der EMO Hannover 2017 kann man erleben, wie die datengetriebene Produktionsoptimierung funktioniert.

Mit der „Smarten Systemoptimierung“ erfolgt eine technisch detaillierte und zugleich automatisierte Auswertung von Stillstandsursachen und Fehlerzusammenhängen in einer Produktionslinie. (Bild:  Fraunhofer IPA/Rainer Bez)
Mit der „Smarten Systemoptimierung“ erfolgt eine technisch detaillierte und zugleich automatisierte Auswertung von Stillstandsursachen und Fehlerzusammenhängen in einer Produktionslinie.
(Bild: Fraunhofer IPA/Rainer Bez)

Eine smarte Systemoptimierung, die Fehler in verketteten Produktionsprozessen erkennt und ihre Ursachen sowie die Fortpflanzung automatisiert aufzeigt, präsentiert das Stuttgarter Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung (IPA) auf der EMO Hannover 2017. Wie das in der Praxis funktioniert, erläutert Felix Georg Müller, Fachthemenleiter Autonome Fertigungssystemoptimierung: „Mit der smarten Systemoptimierung erfolgt eine technisch detaillierte und zugleich automatisierte Auswertung von Stillstandsursachen und Fehlerzusammenhängen in einer Produktionslinie. Sobald die Produktion läuft, werden aus allen Prozessschritten zeitsynchron Daten an ein Analysetool übermittelt.“ Dieses kann nun mit den am Fraunhofer IPA entwickelten Algorithmen Rückschlüsse ziehen und die Informationen in gewünschter Form aufbereiten.

Maschinendaten-Logger macht Steuerungen Big-Data-fähig

Als Datenbasis dienen Zustands- und Prozessinformationen aus allen technischen Teilschritten der gesamten Prozesskette. Hieraus kann das Analysetool kontinuierlich und echtzeitnah herausarbeiten, wo Fehler oder Stillstände auftreten oder erst durch das Zusammenspiel mehrerer abweichender Faktoren in verschiedenen Prozessschritten entstehen. Im Gegensatz zur klassischen OEE (OEE=Overall Equipment Effectiveness) erhält der Anwender sofort eine Ursachenzuordnung.